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仪器名称仪器型号仪器编号仪器国别制造厂商购置日期实验室保管人 
三维原子探针 LEAP4000XHR 11001069美国 美国IMAGO 2011-03-23 分析测试中心 刘文庆 详细信息
超薄冷冻切片机 EM UC7 10003458奥地利 奥地利Leica 2010-12-08 分析测试中心 彭剑超 详细信息
钨灯丝扫描电子显微镜 HITACHI SU-1500 10003426日本 日本HITACHI 2010-09-19 分析测试中心 楼燕燕 详细信息
热场发射扫描电镜 Apollo 300 10000247英国 上海中科鑫欣国际贸易有限公司 2010-01-14 分析测试中心 白琴 详细信息
程控针尖制备仪 VERSION 20091737美国 DYMEK COMPANY LIMITED 2009-06-02 分析测试中心 刘文庆 详细信息
磨凹仪 D500I 20090905美国 MICRO TEHNOLOGY HONG KONG 2009-03-24 分析测试中心 彭剑超 详细信息
离子减薄仪 GL-696F 20072802中国 北京英东伟业科技有限公司 2007-11-01 分析测试中心 彭剑超 详细信息
三维原子探针 3DAP GENERATION3.3 20062822英国 OXFORD NANOSCINECE LTD 2006-12-28 分析测试中心 刘文庆 详细信息
飞秒脉冲激光光谱仪 VERDI-V18 20060710美国 COHERENT 2006-07-13 分析测试中心 鲁波 详细信息
共焦显微拉曼光谱仪 INVIA 20060273英国 英国雷尼紹公司 2006-04-03 分析测试中心 鲁波 详细信息
核磁共振波谱仪 AVANCE 500MHZ 20053205瑞士 瑞士布鲁克公司 2005-12-22 分析测试中心 邓红梅 详细信息
单晶X射线衍射仪 SMART APEXII 20051780德国 布鲁克AXS有限公司 2005-09-05 分析测试中心 邵敏 详细信息
X射线衍射仪 18KW D/MAX2500V+/PC 20050597日本 理学电机株式会社 2005-03-28 分析测试中心 邵敏 详细信息
X射线衍射仪 3KW D/MAX2200V PC 20050598日本 理学电机株式会社 2005-03-28 分析测试中心 张慧 详细信息
发射扫描电子显微镜 JSM-6700F 20032804日本 日本电子公司 2003-12-30 分析测试中心 褚于良 详细信息
透射电子显微镜  200CX 20032785日本 日本电子株式会社 2003-12-18 分析测试中心 胡鹏飞 详细信息
纳米粒度及电位分析仪 ZETASIZER 3000HS 20030944英国 MALVERNLNSTVUMENTS 2003-06-17 分析测试中心 楼燕燕 详细信息
椭圆偏振光谱仪 UVISEL/460 20030775法国 JOBINYVON S.A 2003-05-27 分析测试中心 楼燕燕 详细信息
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